반도체 Test Socket
- 반도체 후 공정 과정에서, 최종 완성된 반도체 IC의 양품과 불량품을 구분하기 위한 전기적 성능 검사 시,
- 검사 설비와 반도체 Device를 연결하는 부품으로, 양품의 반도체 IC 생산을 위해 없어서는 안 될, 소모성 핵심 부품입니다.
ISC Test Socket 소개 (*ISC : Integrated Silicone Contactor)
- Silicone Rubber 소재를 기반으로, 국내 최초 개발 및 세계 최초 상용화된 제품으로, 반도체 Device에 손상을 주는 기존 Test Socket의 한계를 개선한 독창적인 컨셉의 차세대 혁신제품입니다.
- 전도성 Powder와 Silicone으로 구성된 High Performance Contactor 로 Fine/High Speed application에서 적합한 Solution 입니다.
- 반도체 IC의 High Speed, 미세 Pitch, 고성능화, 고집적화, 경박단소화 등의 추세에 따라 Silicone Rubber Test Socket의 기술력이 더욱 빛을 발하고 있습니다.
ISC Test Socket 특징
- 부드러운 Silicone Rubber 소재를 사용하여, 반도체 Device에 손상을 최소화함.
- 생산기간이 짧아, 원가 절감으로 인한 원가 경쟁력이 탁월함.
- 두께가 매우 얇은 극소 Pitch로, 전기적 특성 및 고속 신호 전달력이 우수함.
- 초고속 반도체 검사 시, 전류 손실이 거의 없음.
